Foremay 推出抗輻射太空級 SSD
這款業界首創的 NVMe 及 SATA 抗輻射固態硬碟 (SSD)，專為近地軌道至深空探測任務打造，配備 Graded-Z 防護罩及人工智能 (AI) 驅動的自我修復技術，確保在 LET 100 MeV•cm2/mg 及 TID 500 krad 的極端輻射環境下數據完整無缺。
加州帕薩迪納, March 24, 2026 (GLOBE NEWSWIRE) -- 太空級 SSD 及軍用級 SSD 的全球領導廠商 Foremay, Inc.，於今日正式發佈其極具突破性的 InterStellar™ 系列全線 抗輻射 SSD 產品。
這款新一代抗輻射 SSD 專門滿足軍事及商業任務的嚴苛需求，應用範圍涵蓋近地軌道 (LEO)、中地球軌道 (MEO)、地球靜止軌道 (GEO)、高橢圓軌道 (HEO) 以至深空探測。即使在最惡劣的輻射環境下，也能提供前所未有的超長運作壽命，目前已獲多間頂尖航太級系統製造商採用。
Foremay 技術總監 Dr. Jack Winters 表示：「InterStellar™ 不單是儲存裝置，更是引領下一個世紀太空探索的數碼方舟。 我們結合物理攔截、化學中子捕獲與 AI 驅動的自我修復技術，為太空及國防工業提供標準尺寸的航太級 SSD 解決方案，足以勝任星辰征戰之旅。」
太空及軍用電子設備須面對三重威脅：總電離劑量 (TID)、單粒子效應 (SEE) 及內部靜電放電 (IESD)。 一般的工業級 SSD 在進入軌道暴露於輻射環境後，往往在數月內便會失效，但 Foremay 的 InterStellar™ 採用結合其專利待批及專有技術的 Graded-Z 防護架構。
InterStellar™ 解決方案能有效減速質子並捕獲二次中子，將 10,000 krad 的原始輻射暴露，大減至可控的 500 krad 安全門檻，確保硬件在穿越南大西洋異常區 (SAA) 及其他嚴苛地帶時依然完整可靠。 另外亦提供有效屏障，抵禦外范艾倫 (Van Allen) 輻射帶的「殺手電子」(Killer Electrons) 和二次軔致輻射 (Bremsstrahlung)。
此外，此架構更大幅提升總電離劑量 (TID) 測試等級及傳能線密度 (LET) 的承受門檻，足以抵抗及承受外太空與深空中，由太陽粒子能量 (SPE) 及銀河宇宙射線 (GCR) 所引發的極端輻射。 藉此優勢，其在太空領域中成為實現單粒子效應 (SEE) 免疫儲存的首選方案。
InterStellar™ 不僅擁有物理層面的銅牆鐵壁，更內建 Foremay 獨家的 Interstellar AI 驅動區塊管理 (IABM™) 技術，讓 AI 在太空邊緣發揮作用。 這款先進的固件利用機器學習來創建實時的「輻射風險地圖」(Radiation Risk Map)。 透過持續監測誤碼率 (BER) 及預測性傳感器數據，這款專為國防及太空任務而設的超可靠 SSD，能主動將關鍵數據從遭受高能重離子衝擊的「輻射熱點」(hot zone) 中遷移出來。
加上抗輻射加固的電子控制器和三模塊冗餘 (TMR)，該硬碟保持了單粒子鎖定免疫 (SEL)，賦予 SSD 行業前所未有的單粒子效應 (SEE) 緩解能力。
關於 Foremay
Foremay, Inc. 於 2002 年在矽谷成立，是設計和製造軍用級 SSD 及航太級固態硬碟的領導廠商。 Foremay 總部位於帕薩迪納，致力透過堅固耐用的 SSD 解決方案，不斷突破極端環境下的技術界限。 如欲了解更多資訊，請瀏覽 www.foremay.net。
媒體聯絡人：
Dennis Eodice
pr@foremay.net
+1 408 228 3468
此公告隨附的照片可在以下網址查看：https://www.globenewswire.com/NewsRoom/AttachmentNg/b4ec52df-adb8-4e50-abe4-aa4a4043dec0
Radiation-Hardened SSD and Space-Grade SSD by Foremay
Formeay's Rad-Hard SSD and Space-Grade SSD for LEO, MEO, GEO, HEO and deep space applications.
Legal Disclaimer:
EIN Presswire provides this news content "as is" without warranty of any kind. We do not accept any responsibility or liability for the accuracy, content, images, videos, licenses, completeness, legality, or reliability of the information contained in this article. If you have any complaints or copyright issues related to this article, kindly contact the author above.
